| dc.contributor | ANSELMO ALEJANDRO CORNEJO RODRIGUEZ | |
| dc.creator | BRENDA VILLALOBOS MENDOZA | |
| dc.date | 2015-01 | |
| dc.date.accessioned | 2023-07-25T16:20:57Z | |
| dc.date.available | 2023-07-25T16:20:57Z | |
| dc.identifier | http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/132 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7805353 | |
| dc.description | En este trabajo de tesis se presenta un método para medir los defectos locales
de superficies ópticas utilizando interferometría de desplazamiento de fase,
(PSI, Phase Shifting Interferometry). El desplazamiento de fase que se
observa en los patrones de interferencia capturados, se logra al desplegar
diferentes niveles de gris en un modulador espacial de luz (SLM Spatial Light
Modulator), el cual es colocado en uno de los brazos de un interferómetro de
Michelson. Antes de utilizar la técnica de PSI fue necesario realizar la
calibración del interferómetro, esto con el objetivo de comprobar que los
desplazamientos de fase observados en los patrones de interferencia fueran
producidos únicamente por los niveles de gris desplegados en el SLM y no
debido a su espesor. Se muestra la caracterización realizada para obtener la
curva de “Desplazamiento de fase vs nivel de gris” del SLM CRL Opto
XGA2P01 y el SLM Holoeye LC2012. Para la caracterización de los
moduladores, se propone un método que consiste en medir en los patrones de
interferencia experimentales capturados, el desplazamiento de las franjas que
se observa en la parte del interferograma en donde se ha variado el nivel de
gris, con respecto a la parte del interferograma en donde ha permanecido fijo
el nivel de gris en cero como referencia. Las imágenes desplegadas en el SLM
fueron divididas en dos partes iguales, en la parte superior se varía el nivel de
gris, mientras que la parte inferior permanece fija como referencia. De los
resultados obtenidos, se observa que la técnica propuesta funciona
correctamente para corregir defectos locales en la superficie bajo prueba, que
produzcan desplazamientos de fase de π/2, π y 3π/4. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | Instituto, Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| dc.relation | citation:Villalobos-Mendoza B. | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Interferometría/Interferometry | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Medición de la superficie/Surface topography measurement | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Estimación de fase/Phase estimation | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Moduladores espaciales de luz/Spatial light modulators | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/1 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/22 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.title | Análisis de la fase en sistemas ópticos | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | |
| dc.audience | generalPublic | |
