| dc.creator | José Carlos Jiménez Luis | |
| dc.creator | Beatriz Lagunas Simón | |
| dc.date | 2019 | |
| dc.date.accessioned | 2023-07-21T15:32:23Z | |
| dc.date.available | 2023-07-21T15:32:23Z | |
| dc.identifier | http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/2599 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7728460 | |
| dc.description | Resúmen
Se realizó la caracterización de películas delgadas de WO3 depositadas
sobre sustratos de Silicio, utilizando técnicas como lo son: MEB, AFM,
DRX, TEM y nanoindentación. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2 | |
| dc.title | Caracterización de películas delgadas de WO3 | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferencePoster | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/acceptedVersion | |
