dc.contributorDonatelli, Gustavo Daniel
dc.contributorUniversidade Federal de Santa Catarina
dc.creatorLuca, Luciana Veloso de
dc.date2012-10-21T18:36:00Z
dc.date2012-10-21T18:36:00Z
dc.date2004
dc.date2004
dc.date.accessioned2017-04-03T20:18:29Z
dc.date.available2017-04-03T20:18:29Z
dc.identifier212593
dc.identifierhttp://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87341
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/704468
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial.
dc.descriptionA crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu
dc.format125 f.| il.
dc.languagepor
dc.publisherFlorianópolis, SC
dc.subjectMetrologia científica
dc.subjectMedição
dc.subjectIndustria eletronica
dc.subjectConfiabilidade (Engenharia)
dc.titleRecomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos
dc.typeTesis


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