| dc.contributor | Eugenio Rafael Mendez Mendez | |
| dc.creator | José Félix Aguilar Valdez | |
| dc.date | 1989 | |
| dc.date.accessioned | 2023-03-16T14:33:47Z | |
| dc.date.available | 2023-03-16T14:33:47Z | |
| dc.identifier | http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/3519 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/6231425 | |
| dc.description | En esta tesis se plantea, primeramente, el problema de esparcimiento de ondas electromagnéticas por superficies unidimensionales, de perfil arbitrario. Se encuentra que para ondas S-polarizadas, incidiendo sobre una superficie perfectamente conductora, el problema consiste, esencialmente, en determinar la derivada normal del campo eléctrico sobre la superficie. Se deriva una ecuación integral cuya solución determina la condición de frontera y se describe un método que permite hallar numéricamente dicha solución. Se presenta la teoría de formación de imágenes en un microscopio óptico de barrido. Mediante alô€ žnas simplificaciones reducimos el problema de formación de imágenes a un problema de esparcimiento. Utilizando estos resultados, se srmula numéricamente un microscopio de barrido, y resolviendo el problema de esparcimiento por medio del método descrito, se obtienen imágenes de superficies con diferentesperfiles (escalones, depresiones y elevaciones). Las imágenes obtenidas de esta manera son comparadas con las imágenes obtenidas usando la aproximación de Kirchhoff para la condición de frontera. De este estudio se concluye, principalmente, que la aproximación de Kirchhoff tiene un ranô€ Ÿo de validez más amplio de lo previsto. Sin embargo esta aproxrmación no es válida cuando la superficie puede dar lugar a esparcimiento múltiple. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | CICESE | |
| dc.relation | citation:Aguilar Valdez, J. F. 1989.La validez de la aproximación de Kirchoff en microscopía de superficies. Tesis de Maestría en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 94 pp. | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Autor/Microscopía, Modelos matemáticos,Sistemas de imágenes,Métodos de simulación | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/1 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/22 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.title | La validez de la aproximación de Kirchoff en microscopía de superficies. | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | |
