Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments

dc.creatorVelarde-González, Fabio A.
dc.date.accessioned2019-10-23T21:55:33Z
dc.date.accessioned2022-09-07T17:49:06Z
dc.date.accessioned2023-03-13T19:59:17Z
dc.date.available2019-10-23T21:55:33Z
dc.date.available2022-09-07T17:49:06Z
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dc.date.issued2019-09
dc.identifierVelarde-González, F. A. (2019). Integration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments. Trabajo de obtención de grado, Maestría en Diseño Electrónico. Tlaquepaque, Jalisco: ITESO.
dc.identifierhttp://148.201.128.228:8080/xmlui/handle/20.500.12032/4705
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/6163625
dc.languageeng
dc.publisherITESO
dc.rightshttp://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-ND-2.5-MX.pdf
dc.subjectDegradación de Transistores
dc.subjectHot Carrier Injection
dc.subjectBias Temperature Instability
dc.subjectMOSFET
dc.subjectAging Simulation
dc.subjectMicroelectrónica
dc.subjectSemiconductores
dc.subjectElectronic Design Automation
dc.titleIntegration of Transistor Aging Models across Different EDA Environments
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis


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