dc.contributorSobieranski, Antônio Carlos
dc.creatorMagalhães Santiago, Áthila
dc.date.accessioned2022-03-28T12:44:55Z
dc.date.accessioned2022-12-13T13:36:34Z
dc.date.available2022-03-28T12:44:55Z
dc.date.available2022-12-13T13:36:34Z
dc.date.created2022-03-28T12:44:55Z
dc.date.issued2022-03-25
dc.identifierhttps://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/233185
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/5327157
dc.description.abstractA constante evolução em capacidade de processamento e de armazenamento permitiu o surgimento de programas de computador com algoritmos cada vez mais complexos, capazes de processar uma ampla quantidade de dados em curtas janelas de tempo. Dentre estas tecnologias, é destacável o Aprendizado de Máquina, conceito de Inteligência Artificial amplamente utilizado no reconhecimento de padrões, sobretudo aplicado à imagens, ramo conhecido como Visão Computacional. Dentre as possibilidades de aplicações da visão computacional, destaca-se a área de interação humano-computador (HCI), responsável por elaborar dispositivos e tecnologias capazes de reduzir a distância de comunicação entre humanos e recursos tecnológicos. O presente trabalho tem por enfoque o estudo de viabilidade de uma plataforma de aquisição não-invasiva e invariante à iluminação, com o arcabouço computacional para análise inteligente de imagens. O objetivo é realizar o rastreamento ocular utilizando câmera e iluminação infravermelha, e através de técnicas de processamento de imagem passar comandos para a máquina. Os resultados preliminares obtidos demonstram a viabilidade da solução para um ambiente experimental elaborado especificamente para validação da abordagem proposta.
dc.languagept_BR
dc.publisherAraranguá, SC
dc.rightsOpen Access
dc.subjectVisão computacional
dc.subjectInteligência Artificial
dc.subjectRastreamento ocular
dc.titleEstudo de viabilidade de plataforma para rastreamento ocular invariante à luminosidade utilizando técnicas de processamento digital de imagens e reconhecimento de padrões
dc.typeTCCgrad


Este ítem pertenece a la siguiente institución