| dc.contributor | Fundação Araucária | pt-BR |
| dc.creator | LUCAS MACHADO XAVIER; Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Campo Mourão, Paraná, Brasil | |
| dc.creator | Paulo William Carvalho Sarvezuk; Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Campo Mourão, Paraná, Brasil | |
| dc.creator | Ilton Machado Silva; Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Campo Mourão, Paraná, Brasil | |
| dc.date | 2017-10-23 12:05:35 | |
| dc.date.accessioned | 2022-12-07T17:29:33Z | |
| dc.date.available | 2022-12-07T17:29:33Z | |
| dc.identifier | https://eventos.utfpr.edu.br//sicite/sicite2017/paper/view/1496 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/5304155 | |
| dc.description | O trabalho tem como objetivo fazer com que o acadêmico aprenda a manusear uma ferramenta não convencional de caracterização que pode ser aplicada na engenharia ou em qualquer área de conhecimento que envolva metais e minerais. Assim, para aprender algo novo foi preciso realizar uma breve busca e revisão na literatura. Para estudar os conceitos e processos foram revisados, elaborados e apresentados, na forma de mini seminários de discussão, que correlacionaram os temas ao trabalho que seria realizado no projeto. Após a etapa de estudo, começou a parte prática: identificação de fases os programas estudados foram Match!3 e HighScore Xpert. A partir deste programa, foram elaboradas várias caracterizações de aços e ligas metálicas, com uma ou mais fases. A segunda parte prática era analisar os resultados e começamos os trabalhos com o programa FullProf que, diferente dos dois primeiros, apresentava vários programas de caracterização, quantização via refinamento Rietveld. Foram analisadas amostras como: aços maraging em diferentes condições de tratamentos térmicos. Por fim, sendo os programas citados utilizados para identificação de fases cristalinas, a difração de raios X e refinamento Rietveld pode ser usada, além de aços, por exemplo na caracterização mineralógica de solos, cerâmicos, entre outros compostos que envolvam metais pesados. | pt-BR |
| dc.language | pt | |
| dc.publisher | Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR | pt-BR |
| dc.rights | Autores que submetem a esta conferência concordam com os seguintes termos:<br /> <strong>a)</strong> Autores mantém os direitos autorais sobre o trabalho, permitindo à conferência colocá-lo sob uma licença <a href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">Licença Creative Commons-Attribution</a>, que permite livremente a outros acessar, usar e compartilhar o trabalho com o crédito de autoria e apresentação inicial nesta conferência.<br /> <strong>b)</strong> Autores podem abrir mão dos termos da licença CC e definir contratos adicionais para a distribuição não-exclusiva e subsequente publicação deste trabalho (ex.: publicar uma versão atualizada em um periódico, disponibilizar em repositório institucional, ou publicá-lo em livro), com o crédito de autoria e apresentação inicial nesta conferência.<br /> <strong>c)</strong> Além disso, autores são incentivados a publicar e compartilhar seus trabalhos online (ex.: em repositório institucional ou em sua página pessoal) a qualquer momento antes e depois da conferência. | |
| dc.source | Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR; XXII Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica da UTFPR | 0 |
| dc.subject | refinamento Rietveld; Difração de Raios X; Metais. | pt-BR |
| dc.title | Caracterização e quantização por refinamento Rietveld de difrações de raios X de metais | 0 |
| dc.type | Documento avaliado pelos pares | pt-BR |
