Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V

dc.creatorFabrício Filho, João
dc.creatorFelzmann, Isaías Bittencourt
dc.creatorWanner, Lucas Francisco
dc.date.accessioned5000
dc.date.accessioned2022-09-28T12:38:03Z
dc.date.accessioned2022-12-06T14:24:04Z
dc.date.available5000
dc.date.available2022-09-28T12:38:03Z
dc.date.available2022-12-06T14:24:04Z
dc.date.created5000
dc.date.created2022-09-28T12:38:03Z
dc.date.issued2020-08-19
dc.identifierFABRÍCIO FILHO, João; FELZMANN, Isaías Bittencourt; WANNER, Lucas Francisco. Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V. In: ESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO, 11., 2020, Evento Online. Anais [...]. Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 2020, p. 58-61. Disponível em: https://sol.sbc.org.br/index.php/eradsp/article/view/16886. Acesso em: 24 nov. 2021.
dc.identifierhttp://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/29763
dc.identifierhttps://doi.org/10.5753/eradsp.2020.16886
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/5248195
dc.publisherCampo Mourao
dc.publisherBrasil
dc.relationESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO
dc.relationhttps://sol.sbc.org.br/index.php/eradsp/article/view/16886
dc.rightshttp://cradsp.sbc.org.br/eradsp/2020/submissao.html
dc.rightsembargoedAccess
dc.subjectSistemas embarcados (Computadores)
dc.subjectEnergia - Consumo
dc.subjectGerenciamento de memória (Computação)
dc.subjectEmbedded computer systems
dc.subjectEnergy consumption
dc.subjectMemory Management (Computer science)
dc.titleSensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V
dc.typeconferenceObject


Este ítem pertenece a la siguiente institución