Line detection algorithm applied to the improvement of LEXT OLYMPUS microscope calibration processes.

Algoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.;
Algoritmo de detecção de linha aplicado à melhoria dos processos de calibração do microscópio LEXT OLYMPUS.

dc.creatorBergues, Guillermo Juan
dc.creatorSchürrer, Clemar
dc.creatorCaselles, Juan
dc.creatorBrambilla, Nancy
dc.date2021-09-03
dc.date.accessioned2022-11-08T21:42:59Z
dc.date.available2022-11-08T21:42:59Z
dc.identifierhttps://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/831
dc.identifier10.33414/rtyc.42.1-11.2021
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/5151065
dc.descriptionThis paper presents an image processing method to optimize the calibration of Lext Olympus optical microscopes with templates. The proposed algorithm already works on the scales of Nikon autocollimators, which are similar to those present in the calibration templates of these microscopes. The algorithm was adapted to measure these templates and thus optimize the calibration.en-US
dc.descriptionEn este trabajo se presenta un método para procesar imágenes para optimizar la calibración de microscopios ópticos Lext Olympus con plantillas. El algoritmo propuesto ya funciona en las escalas de los autocolimadores Nikon, que son similares a las presentes en las plantillas de calibración de estos microscopios. El algoritmo fue adaptado para medir estas plantillas y así optimizar la calibración. .es-ES
dc.descriptionEste artigo apresenta um método de processamento de imagem para otimizar a calibração de microscópios ópticos Lext Olympus com modelos. O algoritmo proposto já funciona nas escalas dos autocolimadores Nikon, que são semelhantes às presentes nos gabaritos de calibração desses microscópios. O algoritmo foi adaptado para medir esses modelos e, assim, otimizar a calibração.pt-BR
dc.formatapplication/pdf
dc.formattext/html
dc.languagespa
dc.publisherUniversidad Tecnológica Nacionales-ES
dc.relationhttps://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/831/759
dc.relationhttps://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/831/760
dc.rightsDerechos de autor 2021 Guillermo Juan Bergues, Clemar Schürrer, Juan Caselles, Nancy Brambillaes-ES
dc.rightshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/es-ES
dc.sourceTechnology and Science Magazine; No. 42 (2021): Revista Tecnología y Ciencia; 1-11en-US
dc.sourceRevista Tecnología y Ciencia; Núm. 42 (2021): Revista Tecnología y Ciencia; 1-11es-ES
dc.source1666-6933
dc.subjectplantilla de calibraciónes-ES
dc.subjectmicroscopioes-ES
dc.subjectprocesamiento de imágeneses-ES
dc.subjectConfocales-ES
dc.subjectcalibration slideen-US
dc.subjectmicroscopeen-US
dc.subjectimage processingen-US
dc.subjectConfocalen-US
dc.subjectmodelo de calibraçãopt-BR
dc.subjectmicroscópiopt-BR
dc.subjectprocessamento de imagempt-BR
dc.subjectConfocalpt-BR
dc.titleLine detection algorithm applied to the improvement of LEXT OLYMPUS microscope calibration processes.en-US
dc.titleAlgoritmo de detección de líneas aplicado a la mejora de los procesos de calibración del microscopio LEXT OLYMPUS.es-ES
dc.titleAlgoritmo de detecção de linha aplicado à melhoria dos processos de calibração do microscópio LEXT OLYMPUS.pt-BR
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


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