dc.creatorSilva, Pedro
dc.creatorSagredo, Vicente
dc.date2011-04-08
dc.date.accessioned2022-11-04T22:59:27Z
dc.date.available2022-11-04T22:59:27Z
dc.identifierhttps://produccioncientificaluz.org/index.php/ciencia/article/view/9178
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/5129370
dc.descriptionSe reportan medidas de Resonancia Paramagnética Electrónica (RPE) en el sistema Semiconductor Semimagnético Diluido (SMD) MnIn2-VI4 (VI = S, Se, Te). Se estudia el comportamiento del ancho de línea Hpp en función de la temperatura, en el rango de temperaturas desde 1,6 K hasta la temperatura ambiente. Se relacionan los parámetros del ajuste con la temperatura crítica y con la temperatura de Curie y, se obtiene el parámetro j de la expresión de Silva et. al. modificada (5), el cual tiene que ver con el tipo de transición de fase presentada por el sistema.es-ES
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherFacultad Experimental de Ciencias de la Universidad del Zuliaes-ES
dc.relationhttps://produccioncientificaluz.org/index.php/ciencia/article/view/9178/9167
dc.rightsDerechos de autor 2016 Cienciaes-ES
dc.sourceCiencia; Vol. 11 Núm. 3es-ES
dc.source1315-2076
dc.subjectmictomagnetismoes-ES
dc.subjectresonanciaes-ES
dc.subjectsemimagnéticoses-ES
dc.subjectvidrios de espines-ES
dc.titleResonancia paramagnética electrónica en el sistema MnIn2-VI4es-ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


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