dc.creatorGutiérrez, D. A.
dc.date.accessioned2020-09-25T23:11:23Z
dc.date.accessioned2022-10-19T22:50:25Z
dc.date.available2020-09-25T23:11:23Z
dc.date.available2022-10-19T22:50:25Z
dc.date.created2020-09-25T23:11:23Z
dc.identifierhttps://hdl.handle.net/2238/11601
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/4512165
dc.publisherEditorial Tecnológica de Costa Rica (entidad editora)
dc.relationhttps://revistas.tec.ac.cr/index.php/tec_marcha/article/view/2837/2599
dc.sourceTecnología en marcha Journal; Vol. 13 Núm. especial. Usos pacíficos de la tecnología nuclear (1997); Pág. 19-27
dc.sourceRevista Tecnología en Marcha; Vol. 13 Núm. especial. Usos pacíficos de la tecnología nuclear (1997); Pág. 19-27
dc.source2215-3241
dc.source0379-3982
dc.titleLa fluorescencia de Rayos X aplicada al análisis de aleaciones
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


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