Control de plataforma de degradación acelerada de transistores de potencia

Abstract

El objetivo del presente trabajo es desarrollar una plataforma para acelerar, automatizar y emular el proceso de degradación al que se somete un transistor de efecto de campo metal-óxido-semiconductor (MOSFET) de potencia en un aparato de Resonancia Magnética Nuclear por ciclado rápido de campo (RMN-FFC). Este sistema debe ser capaz de controlar la degradación del transistor; analizar las condiciones de destrucción y reaccionar a ellas; observar los parámetros de funcionamiento durante los ensayos mediante gráficos y almacenar toda la información en una base de datos local.

The objective of the present work is to develop a platform to accelerate, automate and emulate the degradation process to which a power metal-oxide-semiconductor field effect transistor (MOSFET) is subjected in a fast field-cycling Nuclear Magnetic Resonance equipment (FFC-NMR). The system should be able to control degradation of the transistor; analyze destruction conditions and react to them; observe the operating parameters during the trials using graphics and saving all information in a local database.