dc.contributorGallardo, Mario O.
dc.contributorReyna Almandos, Jorge Guillermo
dc.creatorSarmiento Mercado, Rafael Ricardo
dc.date1999
dc.date2010-07-08T03:00:00Z
dc.identifierhttp://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2476
dc.identifierhttps://doi.org/10.35537/10915/2476
dc.descriptionEl presente trabajo, motivado por mejorar y ampliar el conocimiento existente, está relacionado con el estudio espectral en xenón, particularmente sobre el análisis de transiciones entre configuraciones en los iones cinco veces ionizado (XeVI) y siete veces ionizado ( XeVIII), proporciona información estructural de sus niveles de energía y otros parámetros energéticos, potencial de ionización y parámetros de polarizabilidades del carozo “core” iónico. El interés de suministrar datos espectroscópicos se debe a sus importantes aplicaciones en física del láser, física de plasmas y física de altas temperaturas. Por ejemplo, el estudio de líneas de intercombinación resulta de gran utilidad en el diagnóstico de plasmas confinados y astrofísicos. <i>(Párrafo extraído del texto a modo de resumen)</i>
dc.descriptionAsesor académico: Dr. Mario Garavaglia
dc.descriptionFacultad de Ciencias Exactas
dc.formatapplication/pdf
dc.languagees
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.rightsCreative Commons Attribution 4.0 International (CC BY 4.0)
dc.subjectCiencias Exactas
dc.subjectFísica
dc.subjectXenón
dc.subjectAnálisis Espectral
dc.subjectIones
dc.titleEspectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
dc.typeTesis
dc.typeTesis de doctorado


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