dc.contributorRAMON CARRILES JAIMES
dc.creatorOscar Rodolfo Muñiz Sánchez
dc.date2017-04
dc.date.accessioned2022-10-12T20:17:28Z
dc.date.available2022-10-12T20:17:28Z
dc.identifierhttp://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/203
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/4130924
dc.description"En esta tesis se presenta el diseño y elaboración de un sistema óptico típico capaz de realizar espectroscopia de la generación de segundo armónico por reflexión considerando su anisotropía rotacional, en un amplio rango de longitudes de onda. Por medio de dicho sistema se obtuvo la respuesta de una muestra de Silicio estresado con orientación cristalina (001) y ángulo ’miscut’ de 5 grados hacia (110) con longitudes de onda en el rango de 700-790 nm, en la combinación de polarización Sin Pout a un ángulo de incidencia de 45 grados, se observó una resonancia típica del Silicio que confirma la funcionalidad del sistema óptico y la sugerencia de una dependencia por parte del estrés en las mediciones."
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.relationcitation:Muñlz Sánchez, (2017). "Espectroscopía de segundo armónico por reflexión en Silicio estresado". Tesis de Maestría en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 55 pp.
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Generación de segundo armónico
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Películas delgadas
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Superficies
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/1
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/22
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2209
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/220913
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/220913
dc.titleESPECTROSCOPÍA DE SEGUNDO ARMÓNICO POR REFLEXIÓN EN SILICIO ESTRESADO
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
dc.coverageLeón, Guanajuato
dc.audiencegeneralPublic


Este ítem pertenece a la siguiente institución