Espectroscopía por electrones Auger de películas delgadas de Ti-Cr-N obtenidas mediante DC Magnetron Sputtering

dc.contributorjampuerotorres@gmail.corn
dc.creatorTalledo, A.
dc.creatorLópez, A.
dc.creatorBendorf, C
dc.creatorHuaranga, A.
dc.creatorAmpuero, J. L.
dc.creatorAmpuero, J. L.
dc.creatorHuaranga, A.
dc.creatorBendorf, C
dc.creatorTalledo, A.
dc.creatorLópez, A.
dc.date2019-06-24T18:14:00Z
dc.date2019-06-24T18:14:00Z
dc.date2016-12
dc.date.accessioned2020-09-23T20:48:05Z
dc.date.available2020-09-23T20:48:05Z
dc.identifierAmpuero, J.; Huaranga, A.; Bendorf, C; Talledo, A. & López, A. (2016). Espectroscopía por electrones Auger de películas delgadas de Ti-Cr-N obtenidas mediante DC Magnetron Sputtering. REVCIUNI, 19(1).
dc.identifier1813 – 3894
dc.identifierhttp://cybertesis.uni.edu.pe/handle/uni/18002
dc.identifierREVCIUNI
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/3249829
dc.descriptionLa Espectroscopía de Electrones Auger se a utilizado para análisis de la cuantificación química de las superficies de los recubrimientos de Ti-Cr-N, los cuales han obtenidos mediante la técnica de pulverización catódica reactiva DC. Estos recubrimientos también fueron analizados mediante la difracción de rayos X para obtener información de la estructura y de las fases obtenidas en los recubrimientos. Así como también se realizó la medida de la dureza mediante la microindentación Vickers.
dc.descriptionAuger Electron Spectroscopy (AES) was used to obtain the chemical composition of Ti-Cr-N coatings obtained by DC reactive magnetron sputtering. These coatings were also analyzed by XHD for information on the structure and the phases obtained in the coatings. And the hardness measurement was also performed by Vickers microindentation.
dc.descriptionRevisión por pares
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherUniversidad Nacional de Ingeniería
dc.relationVolumen;19
dc.relationNúmero;1
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.sourceUniversidad Nacional de Ingeniería
dc.sourceRepositorio Institucional - UNI
dc.subjectAES
dc.subjectPelículas delgadas
dc.subjectPulverización catódica
dc.titleEspectroscopía por electrones Auger de películas delgadas de Ti-Cr-N obtenidas mediante DC Magnetron Sputtering
dc.typeArtículos de revistas


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