dc.creatorMerlo, Diego
dc.creatorBelloni, Federico
dc.creatorDe Landaburu, Federico
dc.creatorDalessandro, José Antonio
dc.creatorButler, Teresa Adela
dc.date2019-09-27
dc.date2019
dc.date2019-11-04T18:04:42Z
dc.identifierhttp://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/84872
dc.identifierisbn:978-987-3619-47-2
dc.descriptionSe utilizaron 14 probetas en el cual un fragmento semicircular de PEEK, fue tratado en superficie por diferentes agentes para ser observados a diferentes aumentos en el microscopio electrónico de barrido. A través de Laboratorio de Investigaciones de Metalurgia Física (LIMF) se pudo acceder a la utilización de un microscopio electrónico de barrido SEM FEI Quanta200 que con ayuda de un técnico especializado en la materia se procedió a la rotulación de los preparados y posterior observación individual determinando diferentes accidentes sobre el polieter ocasionados por los distintos métodos de preparación de superficie.
dc.descriptionFacultad de Odontología
dc.formatapplication/pdf
dc.format75-75
dc.languagees
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.rightsCreative Commons Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International (CC BY-NC-SA 4.0)
dc.subjectOdontología
dc.subjectPEEK
dc.subjectMicroabrasión del Esmalte
dc.subjectMEB
dc.titleObservación al MEB del microarenado en polieter éter cetona (PEEK)
dc.typeObjeto de conferencia
dc.typeResumen


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