Una revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales.

dc.creatorCaicedo Bravo, Eduardo Francisco
dc.creatorBarandica López, Asfur
dc.date.accessioned2011-10-13T17:38:19Z
dc.date.available2011-10-13T17:38:19Z
dc.date.created2011-10-13T17:38:19Z
dc.date.issued2011-10-13
dc.identifierhttps://hdl.handle.net/10893/1291
dc.description.abstractEste artículo presenta los fundamentos de la técnica de prueba para circuitos integrados digitales CMOS, conocida como el test looo, esta técnica, aún en periodo de desarrollo, tiene buena aceptación entre los diseñadores del ICS, puesto que permite la detección de fallas debidas a defectos estructurales, siendo especialmente adecuada cuando es posible la construcción de sensores de corriente en el mismo IC.
dc.languagees
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectIDDQ
dc.subjectCircuitos integrados digitales
dc.titleUna revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales.
dc.typeArtículo de revista


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