dc.creatorZerbino, Jorge Omar
dc.date2016
dc.date.accessioned2019-05-28T11:00:12Z
dc.date.available2019-05-28T11:00:12Z
dc.identifierhttp://digital.cic.gba.gob.ar/handle/11746/6521
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/2857637
dc.descriptionMediante técnicas electroquímicas y ópticas, en particular elipsometría, impedancia de fotocorriente, voltametría, impedancia electroquímica, medida del punto isoeléctrico y de la gota cautiva se estudia la formación de películas de óxidos, hidróxidos y películas poliméricas, logrando una descripción cuantitativa y detallada de estas interfaces en cuanto a su estructura, conductividad y propiedades ópticas.
dc.formatapplication/pdf
dc.format14 p.
dc.languageEspañol
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAttribution 4.0 International (BY 4.0)
dc.subjectFísico-Química, Ciencia de los Polímeros, Electroquímica
dc.subjectFísica, Matemática, Química y Astronomía
dc.titleInforme científico de investigador: Zerbino, Jorge Omar (2015-2016)


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