| dc.contributor | Estrada López, Walter Francisco | |
| dc.creator | López Milla, Alcides Agustín | |
| dc.creator | López Milla, Alcides Agustín | |
| dc.date | 2016-08-19T01:14:18Z | |
| dc.date | 2016-08-19T01:14:18Z | |
| dc.date | 1995 | |
| dc.date.accessioned | 2019-04-24T22:35:31Z | |
| dc.date.available | 2019-04-24T22:35:31Z | |
| dc.identifier | http://cybertesis.uni.edu.pe/handle/uni/1836 | |
| dc.identifier.uri | http://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/2343648 | |
| dc.description | En el Capítulo 1 describimos al microscopio Electrónico como instrumento, es decir, mostramos su construcción, el funcionamiento de las partes que lo forma, su campo de acción, los diversos modos en que se puede operar y la información que se puede explotar en cada uno de ellos, se resalta en cada punto los hechos importantes para la comprensión de las teorías sobre la formación de imágenes que se desarrolla en el capítulo 2.
El origen de la imagen que se obtiene en un ME, es desarrollado teóricamente para cristales perfectos; aunque la aplicación de la misma a casos reales solo se puede lograr generalizando el desarrollo a cristales con defectos. En el capítulo 3 se sigue paso a paso las instrucciones de manejo del EM PHILIPS 300 en los nodos de imagen y difracción y en el capítulo 4 cotejamos las predicciones teóricas con las imágenes reales obtenidas en forma experimental en los PHILIPS Modelos 300 y 301, en la que podemos admitir una idea clara del grado de aproximación que, en el terreno teórico se ha alcanzado con la realidad, para ello se hacen los análisis gráficos y difractométricos de muestras de NaCl, Pt, Si, Fe-Sn y Fe-O.
Finalmente se concluye con algunos comentarios pertinentes, que enfatizan los puntos importantes de este trabajo y proyectan el despliegue de futuros trabajos. | |
| dc.description | Tesis | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | Universidad Nacional de Ingeniería | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | |
| dc.source | Universidad Nacional de Ingeniería | |
| dc.source | Repositorio Institucional - UNI | |
| dc.subject | Óptica electrónica | |
| dc.subject | Microscopía electrónica | |
| dc.subject | Difractómetros | |
| dc.subject | Análisis gráficos | |
| dc.title | Principios fisicos y aplicación de la microscopía electrónica de transmisión | |
| dc.type | Tesis | |
