dc.contributorSánchez, Héctor Jorge
dc.creatorRobledo, José Ignacio
dc.date.accessioned2019-03-19T14:49:41Z
dc.date.available2019-03-19T14:49:41Z
dc.date.created2019-03-19T14:49:41Z
dc.date.issued2019-02
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11086/11285
dc.description.abstractLa presente tesis doctoral está centrada en el uso de la Dispersión Inelástica Resonante de Rayos X (RIXS) para la determinación del entorno químico de un átomo emisor a partir de espectros colectados mediante sistemas dispersivos en energía, los cuales pueden obtenerse en laboratorios de rayos X convencionales o en facilidades sincrotrón. En la primera parte de esta tesis se describe la técnica EDIXS (Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering ) que desarrollamos en base al uso de métodos multivariados para extraer información de espectros RIXS, colectados por un sistema dispersivo en energía y con un haz incidente monocromático. En la segunda parte se describe el diseño, construcción y funcionamiento de un nuevo espectrómetro. Este sistema está basado en un cristal analizador de forma cónica discreta, que selecciona los fotones provenientes de la muestra emisora y los difracta hacia distintas posiciones de la superficie de un detector sensible a la posición.
dc.description.abstractThis thesis is focused in the use of Resonant Inelastic X-Ray Scattering (RIXS) in energy dispersive mode for chemical environment characterization of the emitting atoms. These spectra may be easily obtained in synchrotron radiation facilities and also in conventional x-ray laboratories. The thesis is divided in two parts. The first one describes our technique, called Energy Dispersive Inelastic X-Ray Scattering (EDIXS), which is based in the use of multivariate statistical analyses for extracting information from RIXS spectra measured with energy dispersive systems, and a monochromatic beam. The second part is dedicated to the design, construction and fabrication of a new spectrometer, consisting on a crystal analyzer with a "Discrete Conical" shape, that selects photons emitted from the sample and diffracts them towards the surface of a position sensitive detector.
dc.languagespa
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
dc.rightsAtribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional
dc.subjectEspectros de rayos X
dc.subjectX-ray spectra
dc.subjectMultivariete analysis
dc.subjectX- and γ-ray spectroscopy
dc.subjectElastic and inelastic scattering
dc.subjectNanoscale materials and structures
dc.titleAvances en espectroscopía por dispersión inelástica resonante de rayos X en baja y alta resolución
dc.typedoctoralThesis


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