dc.contributorTrincavelli, Jorge Carlos
dc.creatorPérez, Pablo Daniel.
dc.date.accessioned2011-09-05T19:32:51Z
dc.date.available2011-09-05T19:32:51Z
dc.date.created2011-09-05T19:32:51Z
dc.date.issued2010
dc.identifierIncluye referencias bibliográficas.
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11086/37
dc.description.abstractSe idearon métodos que permiten, mediante EPMA, diferenciar y cuantificar los compuestos presentes en una muestra (especiación). Para ello, se tomaron los espectros de rayos x emitidos por muestras preparadas con diferentes compuestos de azufre (para obtener diversos estados de oxidación). Se realizaron caracterizaciones de los espectros Kα y Kβ obtenidos y se propusieron métodos para cuantificar las muestras. Uno de ellos, consiste simplemente en seguir el desplazamiento relativo del pico Kα; otro, más elaborado, se basa en minimizar una diferencia cuadrática entre el espectro experimental y un espectro predicho; además se investigó la variación del cociente Kβ/Kα para muestras puras. La corroboración de los métodos propuestos fue positiva, demostrando que éstos pueden ser utilizados en situaciones similares a las que aquí se presentan.
dc.languagespa
dc.relationDisponible en línea
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 Argentina
dc.subjectAtomic spectra
dc.subjectX-ray spectra
dc.subjectLine shapes, widths and shifts
dc.subjectIntensities and shapes of atomic spectral lines
dc.subjectAbsolute and relative intensities
dc.subjectAuger effect and inner-shell excitation or ionization
dc.subjectAtomic excitation and ionization by electron impact
dc.subjectSpectroscopic techniques
dc.subjectScanning probe microscopes and components
dc.titleCaracterización de mezclas de distintos compuestos de azufre mediante espectroscopía de emisión de rayos x /
dc.typebachelorThesis


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