dc.creatorHernando Vanegas Penagos, Luis
dc.date2014-06-12T18:05:24Z
dc.date2014-06-12T18:05:24Z
dc.date2005
dc.identifierHernando Vanegas Penagos, Luis; . Diagnóstico em modelos simétricos de regressão. 2005. Dissertação (Mestrado). Programa de Pós-Graduação em Estatística, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, 2005.
dc.identifierhttps://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6489
dc.descriptionA modelagem estatística sob a suposição de erros normalmente distribuídos pode ser altamente influenciada por observações extremas, o que motiva o estudo de técnicas de regressão mais robustas frente a este tipo de observações. Como uma alternativa, podem ser considerados modelos em que a distribuição assumida para o erro pertence à classe simétrica. Estes modelos são chamados de modelos simétricos de regressão. Neste trabalho, estudamos analiticamente e através de simulações de Monte Carlo as propriedades estatísticas de dois tipos de resíduos propostos: componente desvio e quantal para os modelos simétricos de regressão com componentes sistemáticas não-lineares. Além disso, desenvolvemos métodos de diagnóstico usando o enfoque de influência global. Neste sentido, propomos algumas medidas tais como distância de Cook, estatística W-K, aproximação a um passo, afastamento da verossimilhança e alguns métodos gráficos
dc.formatapplication/pdf
dc.languagepor
dc.publisherUniversidade Federal de Pernambuco
dc.subjectSimétrico
dc.subjectRegressão
dc.titleDiagnóstico em modelos simétricos de regressão
dc.typemasterThesis


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