dc.creatorJesus Filho, Antenor Lopes de
dc.date1999
dc.date2017-03-22T07:02:36Z
dc.date2017-10-16T13:00:55Z
dc.date2017-03-22T07:02:36Z
dc.date2017-10-16T13:00:55Z
dc.date.accessioned2018-03-29T05:36:44Z
dc.date.available2018-03-29T05:36:44Z
dc.identifier(Broch.)
dc.identifierJESUS FILHO, Antenor Lopes de. A espectrometria de fluorescencia de raios-X de energia dispersiva na medida de espessura de filmes polimericos e filmes metalicos espessos. 1999. 104p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.bibliotecadigital.unicamp.br/document/?code=vtls000199989&opt=4>. Acesso em: 22 mar. 2017.
dc.identifierhttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/248798
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1360583
dc.descriptionOrientador: Maria Izabel Maretti Silveira Bueno
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica
dc.descriptionMestrado
dc.format104p. : il.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagePortuguês
dc.publisher[s.n.]
dc.subjectEspectroscopia de raio X
dc.subjectFilmes finos
dc.titleA espectrometria de fluorescencia de raios-X de energia dispersiva na medida de espessura de filmes polimericos e filmes metalicos espessos
dc.typeTesis


Este ítem pertenece a la siguiente institución