| dc.creator | Teani, Carlos Roberto Negrão | |
| dc.date | 1998 | |
| dc.date | 1998-12-15T00:00:00Z | |
| dc.date | 2017-03-22T00:00:21Z | |
| dc.date | 2017-07-13T19:55:05Z | |
| dc.date | 2017-03-22T00:00:21Z | |
| dc.date | 2017-07-13T19:55:05Z | |
| dc.date.accessioned | 2018-03-29T04:00:12Z | |
| dc.date.available | 2018-03-29T04:00:12Z | |
| dc.identifier | (Broch.) | |
| dc.identifier | TEANI, Carlos Roberto Negrão. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear. 1998. 126p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://libdigi.unicamp.br/document/?code=vtls000136648>. Acesso em: 21 mar. 2017. | |
| dc.identifier | http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260608 | |
| dc.identifier.uri | http://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1339448 | |
| dc.description | Orientador: Alberto Martins Jorge | |
| dc.description | Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação | |
| dc.description | Resumo: Buscando alternativa para a realização de testes paramétricos de circuitos em linha de produção, os quais consomem percentual significativo dos recursos, é demonstrada a viabilidade da aplicação de teste sistêmico para este fim. O método baseia-se no comportamento dinâmico não linear dos dispositivos, comportamento este que é analisado através de mapas obtidos do espaço de estado do sistema dinâmico. Os resultados obtidos demonstram que é possível a identificação de pequenas diferenças paramétricas entre dispositivos e portanto a aplicação do método para testes do tipo passa/não-passa em linha de produção, com redução do tempo de teste sem perda de testabilidade | |
| dc.description | Abstract: Considering the fact that parametric test in integrated circuits manufacturing line is expensive and time consuming, a systemic go/no-go test type has been developed for time reduction. Using the dynamic nonlinear behavior of the electronic devices, the space states is studied through maps to identify parametric deviations of the device under test. The results show the feasibility of the method without reduction of the testability | |
| dc.description | Doutorado | |
| dc.description | Eletronica e Comunicações | |
| dc.description | Doutor em Engenharia Eletrica | |
| dc.format | 126p. : il. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | Português | |
| dc.publisher | [s.n.] | |
| dc.subject | Circuitos integrados | |
| dc.subject | Teorias não-lineares | |
| dc.subject | Medidas elétricas | |
| dc.title | Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear | |
| dc.type | Tesis | |
