| dc.creator | Lopes, Manoel Cesar Valente | |
| dc.date | 2000 | |
| dc.date | 2017-03-22T14:43:26Z | |
| dc.date | 2017-07-13T19:53:01Z | |
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| dc.date | 2017-07-13T19:53:01Z | |
| dc.date.accessioned | 2018-03-29T03:58:36Z | |
| dc.date.available | 2018-03-29T03:58:36Z | |
| dc.identifier | (Broch.) | |
| dc.identifier | LOPES, Manoel Cesar Valente. Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos. 2000. 239p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.rau-tu.unicamp.br/nou-rau/sbu/document/?code=vtls000223715>. Acesso em: 22 mar. 2017. | |
| dc.identifier | http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260315 | |
| dc.identifier.uri | http://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1339049 | |
| dc.description | Orientador: Vitor Baranauskas | |
| dc.description | Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação | |
| dc.description | Doutorado | |
| dc.format | 239p. : il. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | Português | |
| dc.publisher | [s.n.] | |
| dc.subject | Simulação (Computadores) | |
| dc.subject | Silício - Propriedades elétricas | |
| dc.subject | Filmes finos - Propriedades elétricas | |
| dc.subject | Dielétricos | |
| dc.subject | Transistores | |
| dc.subject | Aspereza de superficie | |
| dc.title | Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos | |
| dc.type | Tesis | |
