dc.creatorBarbosa, Felipe Rudge
dc.date1979
dc.date1979-07-21T00:00:00Z
dc.date2017-03-14T03:25:13Z
dc.date2017-06-14T17:36:15Z
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dc.date.accessioned2018-03-29T02:46:21Z
dc.date.available2018-03-29T02:46:21Z
dc.identifierBARBOSA, Felipe Rudge. Espectroscopia Raman e infravermelho em fibras óticas e em sílica. 1979. 61 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.bibliotecadigital.unicamp.br/document/?code=vtls000044037>. Acesso em: 14 mar. 2017.
dc.identifierhttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277039
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1321100
dc.descriptionOrientador: Ramakant Srivastava
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin
dc.descriptionResumo: Fizemos o estudo das fibras óticas de silica produ- zidas em nossos laboratórios, bem como de preformas de fibras e de amostras de silica pura, utilizando técnicas de espectroscopia Raman e Infravermelho. Nos estudos de espalhamento Raman , obtivemos os espectros do núcleo das fibras dopado com GeO2(germania), na configuração de espalhamento frontal e retro-espalhamento, fazendo medidas inclusive abaixas temperaturas e com tensão mecânica aplicada à fibra; obtivemos também espectros do núcleo e casca de preforma de fibra, na configuração de espalhamento a 90°. O estudo de Infravermelho incluiu espectros de refletividade e transmissividade da silica pura, assim como a obteção do espectro de absortividade a partir daqueles espectros. Apresentamos uma revisão geral do que já foi feito no assunto, e complementamos nosso trabalho experimental com análises e discussões dos resultados que obtivemos. Os resultados mostram que os dois picos de baixa frequência (60 e 90cm-l) podem ser devidos a modos coletivos de movimento da rêde da silica (translações e vibrações), resultando num par TO-LO como consequência da existência de ordem de longo alcance (muito maior que a ligação Si-O-Si). Fazemos também a extensão deste modelo alternativo para a estrutura do vidro, aos modos de frequências mais altas
dc.descriptionAbstract: Not informed.
dc.descriptionMestrado
dc.descriptionFísica
dc.descriptionMestre em Física
dc.format61 f. : il.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagePortuguês
dc.publisher[s.n.]
dc.subjectEspectroscopia Raman
dc.subjectEspectroscopia de infravermelho
dc.titleEspectroscopia Raman e infravermelho em fibras óticas e em sílica
dc.typeTesis


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