dc.creatorSthel, Marcelo Silva
dc.date1987
dc.date1987-09-29T00:00:00Z
dc.date2017-03-14T17:39:54Z
dc.date2017-06-14T17:35:20Z
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dc.date.accessioned2018-03-29T02:45:44Z
dc.date.available2018-03-29T02:45:44Z
dc.identifierSTHEL, Marcelo Silva. Medida de rugosidade por correlação fotográfica simultânea de granulação óptica. 1987. 66f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.bibliotecadigital.unicamp.br/document/?code=vtls000052752>. Acesso em: 14 mar. 2017.
dc.identifierhttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278008
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1320939
dc.descriptionOrientador: Jose J. Lunazzi
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin
dc.descriptionResumo: Através da compreenção e do estudo de um campo luminoso espalhado por uma superfície rugosa, quando sobre a mesma incide luz coerente, podemos determinar um parâmetro chamado desvio médio quadrático das alturas da superfície em questão, definindo-o como a rugosidade. Obtivemos para isto um sistema mais prático com possibilidade direta de acesso de dados ao microcomputador
dc.descriptionAbstract: The measurement of roughness as an statistical mean over the height profile of a rough surface ( R.M.S ) was achieved through the knowledge and understanding of the light field that is scattered under coherent light illumination, obtaining an improved system for the detected technique. A microcomputer can now easily perform the data processing
dc.descriptionMestrado
dc.descriptionFísica
dc.descriptionMestre em Física
dc.format66f. : il.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagePortuguês
dc.publisher[s.n.]
dc.subjectAspereza de superficie - Medição
dc.subjectÓtica
dc.titleMedida de rugosidade por correlação fotográfica simultânea de granulação óptica
dc.typeTesis


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