Método De Quantificação De Alumìnio Em Sìlica Por Espalhamento De Raios-x Aliado A Quimiometria
| dc.creator | Bueno Maria Izabel Maretti Sil | |
| dc.creator | Goraieb Karen | |
| dc.creator | Collins Kenneth Elmer | |
| dc.date | 2007-02-27 | |
| dc.date | 2015-02-09T18:29:21Z | |
| dc.date | 2015-02-09T18:29:21Z | |
| dc.date | 19/07/2005 | |
| dc.date.accessioned | 2018-03-28T20:28:25Z | |
| dc.date.available | 2018-03-28T20:28:25Z | |
| dc.identifier | http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/84563 | |
| dc.identifier.uri | http://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1230446 | |
| dc.description | MÉTODO DE QUANTIFICAÇÃO DE ALUMÍNIO EM SÍLICA POR ESPALHAMENTO DE RAIOS-X ALIADO A QUIMIOMETRIA. Compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de EDXRF, considerando, além da emissão de raios-X característica do elemento A1, também picos de espalhamento da fonte de raios-X, e tal método apresenta com vantagens o fato de não ser destrutivo, pois requer mínima ou nenhuma preparação da amostra; apresentar simplicidade e rapidez de análises, com baixo custo, principalmente operacional; apresentar alta eficiência em se obter resultados, não gerar resíduos e, pode ser empregado como método de rotina. | |
| dc.description | BRPI0502861 (A) | |
| dc.description | G01N23/00 | |
| dc.description | C12Q1/00 | |
| dc.description | G01N33/00 | |
| dc.description | G01N33/00 | |
| dc.description | C12Q1/00 | |
| dc.description | ||
| dc.description | BR2005PI02861 | |
| dc.description | G01N23/00 | |
| dc.description | C12Q1/00 | |
| dc.description | G01N33/00 | |
| dc.description | G01N33/00 | |
| dc.description | C12Q1/00 | |
| dc.rights | aberto | |
| dc.title | Método De Quantificação De Alumìnio Em Sìlica Por Espalhamento De Raios-x Aliado A Quimiometria | |
| dc.type | Patentes |