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Una revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales.
(2011-10-13)
Este artículo presenta los fundamentos de la técnica de prueba para circuitos integrados digitales CMOS, conocida como el test looo, esta técnica, aún en periodo de desarrollo, tiene buena aceptación entre los diseñadores ...
Detecção de defeitos do tipo Resistive-Open em SRAM com o uso de lógica comparadora de vizinhança
(Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do SulPorto Alegre, 2012)
The world we live today is very dependent of the technology advance and the Systemson- Chip (SoC) are one of the most important actors of this advance. As a consequence, the Moore's law has been outperformed due to this ...
Detecção de defeitos do tipo Resistive-Open em SRAM com o uso de lógica comparadora de vizinhança
(Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do SulPorto Alegre, 2012)
The world we live today is very dependent of the technology advance and the Systemson- Chip (SoC) are one of the most important actors of this advance. As a consequence, the Moore's law has been outperformed due to this ...