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Mostrando ítems 1-10 de 2565
Analise de curto-circuito em sistemas eletricos de potencia
([s.n.], 1979)
Operação de circuitos lógicos CMOS de (ultra)-baixo consumo
(Florianópolis, SC, 2012)
Una revisión a la metodología IDDQ de test y verificación de circuitos integrados digitales.
(2011-10-13)
Este artículo presenta los fundamentos de la técnica de prueba para circuitos integrados digitales CMOS, conocida como el test looo, esta técnica, aún en periodo de desarrollo, tiene buena aceptación entre los diseñadores ...