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Mostrando ítems 131-140 de 320
Electrical modeling and optimization of multilayer via transitions for fully-integrated systems
(Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, 2011)
Verificación lógica de los modelos sintetizados para circuitos integrados
(2010)
La clasificación de fallas es el proceso de evaluación o clasificación de una serie de pruebas de acuerdo a su eficacia en la detección de defectos de fabricación. El principal objetivo de la clasificación de fallas es ...
Signal integrity testing for high speed signals
(Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica, 2008)