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Mostrando ítems 1-10 de 1618
Estudio del efecto de estrés térmico y eléctrico en dispositivos electrónicos a través de mediciones de ruido de baja frecuencia.
(Escuela Superior Politécnica de Chimborazo, 2020-09-21)
In this degree work, the effect of thermal and electrical stress on power semiconductor devices was studied through low-frequency noise measurements. As part of the methodology, the experimental design steps are described ...
Diseño de dispositivos, circuitos y sistemas electrónicos 2
(ITESO, 2018-05)
Diseño de dispositivos, circuitos y sistemas electrónicos
(ITESO, 2017-06)