Aplicacao do metodo de analise por ativacao a determinacao de impurezas em oxidos de terras raras produzidos no IPEN-CNEN/SP

Texto completo de evento

Registro en:

http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/13037

https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8990161

Autor

SAIKI, M.

LELLIS, L.O.

2o. CGEN

Institución

Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (Brasil)

Materias

neutron activation analysis

ge semiconductor detectors

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