dc.contributorUniversidade Estadual Paulista (UNESP)
dc.creatorMaurity, A.J.S
dc.creatorLunas, F.R
dc.creatorCarvalho, C.L
dc.creatorReynoso, V.C.S
dc.creatorAquino, Hermes Adolfo de
dc.date2014-05-20T13:29:41Z
dc.date2014-05-20T13:29:41Z
dc.date2012-03-01
dc.date.accessioned2017-04-05T20:14:39Z
dc.date.available2017-04-05T20:14:39Z
dc.identifierRevista Brasileira de Ensino de Física. Sociedade Brasileira de Física, v. 34, n. 1, p. 1-8, 2012.
dc.identifier1806-1117
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11449/10041
dc.identifier10.1590/S1806-11172012000100007
dc.identifierS1806-11172012000100007
dc.identifierWOS:000302011500007
dc.identifierS1806-11172012000100007.pdf
dc.identifierhttp://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1806-11172012000100007
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/858032
dc.descriptionNeste trabalho foi montado um sistema para determinar propriedades de transporte, tais como, a resistividade elétrica, a densidade e a mobilidade dos portadores de carga elétrica de filmes finos utilizando o efeito Hall, nas condições de laboratório de ensino, utilizando materiais de fácil aquisição. Filmes finos de SnO2 dopados com Fluor obtidos por processos químicos de deposição foram caracterizados e apresentaram resultados consistentes com o que existe na literatura.
dc.descriptionIn this work was built a system to determine transport properties such as electrical resistivity, charge carrier density and mobility of thin films using Hall effect in special conditions of undergraduate laboratory using no special materials either instruments. SnO2 thin films doped with fluor obtained by chemical process were characterized using the developed methodology and presented consistent results those reported in literature.
dc.descriptionFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)
dc.descriptionConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)
dc.descriptionCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
dc.languagepor
dc.publisherSociedade Brasileira de Física
dc.relationRevista Brasileira de Ensino de Física
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectefeito Hall
dc.subjectfilmes finos
dc.subjectresistividade
dc.subjectmobilidade
dc.subjectportadores de cargas
dc.subjectHall Effect
dc.subjectthin film
dc.subjectresistivity
dc.subjectmobility
dc.subjectcharge carriers
dc.titleConstrução de um sistema de caracterização das propriedades de transporte de filmes finos pelo efeito Hall
dc.typeOtro


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