info:eu-repo/semantics/article
Testing of Stuck-Open Faults in Nanometer Technologies
Autor
Víctor Hugo Champac Vilela
JULIO CESAR VAZQUEZ HERNANDEZ
Resumen
Failure analysis and fault modeling of integrated circuits have always been fields that require continuous revision and update as manufacturing processes evolve. This paper discusses the new face of the well-known transistor stuck-open fault model in modern nanometer technologies and proposes new detection methods that improve the robustness of tests. VDimitris Gizopoulos, University of Athens
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