Este trabajo presenta el diseño de un sistema que permite la caracterización de dispositivos semiconductores (como diodos bipolares y capacitores MOS) a partir de la captura de curvas capacitancia contra voltaje (curvas CV a alta[4] y baja[3] frecuencia). Para tal propósito se necesita introducir un nuevo dispositivo electrónico que permita transparencia en el funcionamiento de los dos dispositivos de medida, este nuevo dispositivo es el acoplador remoto[7], dado que no se contaba con la documentación al respecto se procedió a conseguirla, una parte de esta la proporciono el CINVESTAV, en donde también se checo su funcionamiento, la diferencia es que ahí funciona bajo el sistema operativo MSDOS, y el sistema que se creo corre bajo otro sistema operativo que es Windows. También se tuvo que conseguir todos los tipos de cables usados para conectar el sistema completo y los diagramas de conexión. El programa siguió el mismo esquema que el de los dos anteriores, para CV Alta Frecuencia y CV Baja Frecuencia, solo que ahora hay que programas los dos dispositivos de medida y sincronizarlos adecuadamente para no perder los datos medidos. Se presenta un ejemplo de cómo funciona el sistema y se proporciona toda la información de conexión del equipo integrado.