In this work, we use Ronchi sub-structured gratings to quantify the increasement accuracy in measuring the transverse aberration using a liquid crystal display. For this, we perform a comparison between the Root Mean Square (RMS) obtained by calculating the aberration function using the profiles of irradiance in the ronchigrams obtained with conventional gratings with the ones obtained using sub-structured gratings. This analysis is performed for different gratings positions. We show the results obtained in the laboratory for a spherical mirror of 57.27 mm diameter and a radius of curvature of 397.55 mm, additionally, we show the results when applying the test in a parabolic mirror with a radius of curvature of 2,400 mm and a diameter of 140 mm. We conclude that using Ronchi sub-structure gratings results in an increment of the wavefront reconstruction accuracy.En este trabajo se describe la utilización de rejillas de Ronchi subestructuradas para cuantificar el incremento en la precisión al medir las aberraciones transversales utilizando una pantalla de cristal líquido como rejilla de Ronchi. Para este fin se comparan los rms (Root Mean Square) obtenidos al calcular la función de aberración utilizando los perfiles de irradiancia correspondientes a ronchigramas obtenidos con rejillas clásicas y los obtenidos para rejillas sub-estructuradas. Este análisis se realiza para diferentes posiciones de la rejilla. Se muestran los resultados obtenidos en el laboratorio para un espejo esférico de 57.27 mm de diámetro y un radio de curvatura de 397.55 mm, además se muestran los resultados al aplicar la prueba en un espejo parabólico con un radio de curvatura de 2,400 mm y un diámetro de 140 mm. Se encontró que al utilizar rejillas de Ronchi subestructuradas se puede obtener una mejor precisión en la reconstrucción del frente de onda.