En este trabajo de tesis se propone un nuevo interferómetro, que llamamos “Interferómetro con Filo de Navaja,” mediante el cual, obtenemos las aberraciones ópticas de una lente de alta calidad (esfera de referencia) de un interferómetro comercial tipo Fizeau de marca comercial Zygo, que es utilizada como patrón de referencia para generar las componentes y sistemas ópticos en el taller de óptica del INAOE. Los resultados de las aberraciones presentes en la lente bajo prueba se obtienen a partir del análisis de sus interferogramas. Para obtener dichos interferogramas de la lente, colocamos el filo de una navaja cerca de su foco para generar un frente cilíndrico de referencia que se superpone con el frente de onda esférico de prueba que proviene de la lente que se desea análizar, como consecuencia de esta superposicón de los frentes de onda, se tienen patrones de interferencia con información parcial de las aberraciones presentes en la lente bajo prueba. Los interferogramas son capturados con una cámara CCD y procesados en una PC para obtener de manera cualitativa las aberraciones de la lente bajo prueba o bien, los resultados de la calidad óptica de la lente de prueba.