En este trabajo de tesis se presenta un método para medir los defectos locales de superficies ópticas utilizando interferometría de desplazamiento de fase, (PSI, Phase Shifting Interferometry). El desplazamiento de fase que se observa en los patrones de interferencia capturados, se logra al desplegar diferentes niveles de gris en un modulador espacial de luz (SLM Spatial Light Modulator), el cual es colocado en uno de los brazos de un interferómetro de Michelson. Antes de utilizar la técnica de PSI fue necesario realizar la calibración del interferómetro, esto con el objetivo de comprobar que los desplazamientos de fase observados en los patrones de interferencia fueran producidos únicamente por los niveles de gris desplegados en el SLM y no debido a su espesor. Se muestra la caracterización realizada para obtener la curva de “Desplazamiento de fase vs nivel de gris” del SLM CRL Opto XGA2P01 y el SLM Holoeye LC2012. Para la caracterización de los moduladores, se propone un método que consiste en medir en los patrones de interferencia experimentales capturados, el desplazamiento de las franjas que se observa en la parte del interferograma en donde se ha variado el nivel de gris, con respecto a la parte del interferograma en donde ha permanecido fijo el nivel de gris en cero como referencia. Las imágenes desplegadas en el SLM fueron divididas en dos partes iguales, en la parte superior se varía el nivel de gris, mientras que la parte inferior permanece fija como referencia. De los resultados obtenidos, se observa que la técnica propuesta funciona correctamente para corregir defectos locales en la superficie bajo prueba, que produzcan desplazamientos de fase de π/2, π y 3π/4.