Los sistemas electrónicos actuales integran diversos dispositivos y microsistemas, los cuales por sí solos no cumplen las funciones o tareas que sí hacen en conjunto. Por lo tanto, es necesario interconectar todos los elementos del sistema para poder enviar y recibir información a altas velocidades. Sin embargo, el incremento de la frecuencia de operación modifica el comportamiento de las interconexiones, ya que se presentan nuevos efectos que deben considerarse. Para asegurar la comunicación entre los microsistemas, es necesario analizar, modelar y caracterizar las líneas de transmisión. Con la constante de propagación e impedancia característica se puede caracterizar completamente una línea de transmisión. Sin embargo, para medir los parámetros S de la línea se utilizan estaciones de prueba, cables, conectores y transiciones que introducen efectos indeseados en las mediciones, lo cual complica la extracción de la impedancia característica. Por otra parte, existen métodos que determinan adecuadamente la constante de propagación a partir de mediciones de los parámetros S. En este trabajo se presenta un método que permite caracterizar líneas de transmisión homogéneas a partir de sus propiedades de propagación. La extracción de parámetros se basa en la separación e identificación de las pérdidas por conductor y dieléctrico; con estas últimas se puede determinar la tangente de pérdidas. Posteriormente, la impedancia característica y los parámetros RLGC se obtienen de manera sencilla en función de la frecuencia. Para verificar que el método propuesto es válido, se analizaron líneas microstrip y striplines terminadas con G-S-G pads y conectores coaxiales, respectivamente. Se simuló un circuito RLGC que representa a la línea de transmisión y se obtuvieron los respectivos parámetros S, los cuales se comparan con los del método propuesto y los experimentales. Además se presenta una simulación en el dominio del tiempo, la cual nos permite analizar el comportamiento de un pulso de voltaje que se propaga a través de la línea.