Caracterización de películas delgadas de WO3

José Carlos   Jiménez Luis; Beatriz  Lagunas Simón

info:eu-repo/semantics/conferencePoster

Registro en:

http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/2599

https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7728460

Autor

José Carlos Jiménez Luis

Beatriz Lagunas Simón

Institución

Centro de Investigación en Materiales Avanzados (México)

Resumen

Resúmen Se realizó la caracterización de películas delgadas de WO3 depositadas sobre sustratos de Silicio, utilizando técnicas como lo son: MEB, AFM, DRX, TEM y nanoindentación.

Materias

info:eu-repo/classification/cti/2

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