Caracterización óptica de un cristal fotónico bidimensional con periodicidad cuadrada, con un arreglo de cavidades ópticas, construido sobre un sustrato de Si recubierto con una película delgada de ZnO.

dc.creatorJOSE ANTONIO MEDINA VAZQUEZ
dc.creatorEVELYN YAMEL GONZALEZ RAMIREZ
dc.creatorJ GUADALUPE MURILLO RAMIREZ
dc.date2018
dc.date.accessioned2023-07-21T15:31:42Z
dc.date.available2023-07-21T15:31:42Z
dc.identifierhttp://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/2178
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7728084
dc.descriptionSe caracterizó ópticamente un cristal fotónico de Si-ZnO fabricado por el método de haces enfocados de iones (FIB), que describe una estructura bidimensional de matriz cuadrada incluyendo un arreglo de microcavidades con periodicidad cuadrada. La estructura fotónica estudiada mostró la capacidad de modular espacialmente la reflectancia óptica en la frontera de los rangos infrarrojo cercano-visible (VIS-NIR) del espectro electromagnético.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/about/cc0/
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/(VIS-NIR)/Sí-ZnO
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/23
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2399
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/239999
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/239999
dc.titleCaracterización óptica de un cristal fotónico bidimensional con periodicidad cuadrada, con un arreglo de cavidades ópticas, construido sobre un sustrato de Si recubierto con una película delgada de ZnO.
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePoster
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/submittedVersion


Este ítem pertenece a la siguiente institución