"Se desarrolló un sistema óptico capaz de medir los campos de deformación dentro y fuera del plano, basado en la interferometría electrónica del speckle. Las imágenes del interferograma obtenidas se procesaron utilizando la técnica de paso de fase. Se propone una geometría de probeta específica y una disposición óptica basada en el interferómetro Michelson para medir la deformación a lo largo de dos ejes ortogonales debido a la sensibilidad dentro y fuera del plano. Las ventajas del sistema incluyen su alta sensibilidad y estabilidad. La configuración y el enfoque experimental para estimar los campos de cepas se validaron utilizando una membrana basada en ácido poliláctico reforzado con celulosa microcristalina como muestra sometida a cambios de humedad relativa y de estructura."