ANÁLISIS DE INTERFEROGRAMAS CON TÉCNICAS DE FRECUENCIA PORTADORA E INTERFEROMETRÍA DE AMARRE DE FASE

dc.contributorDaniel Malacara_Hernández
dc.creatorJuan Martin Carpio Valadez
dc.date1995-01
dc.date.accessioned2023-07-21T15:15:27Z
dc.date.available2023-07-21T15:15:27Z
dc.identifierhttp://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/929
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7725700
dc.description"En la presente tesis se elaboraron las herramientas para desarrollar el análisis de interferogramas usando IF, de IAF, y pruebas nulas con IAF. Se hace un marcado énfasis en la IAF, que es uno de los puntos más fuertes de este trabajo. Se propone un sistema basado en el interferómetro Murty para probar superficies asféricas en la cual se combinaron las ideas de interferometría de desplazamiento lateral e interferometría de amarre de fase."
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.relationcitation:Carpio Valadez, (1995). "Análisis de interferogramas con técnicas de frecuencia portadora e interferometría de amarre de fase". Tesis de Doctorado en Ciencias (Óptica). Centro de Investigaciones en Óptica, A.C. León, Guanajuato. 123 pp.
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Interferometría
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Interferogramas
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Frecuencia portadora temporal
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autor/Amarre de fase
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/1
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/22
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2209
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2209
dc.titleANÁLISIS DE INTERFEROGRAMAS CON TÉCNICAS DE FRECUENCIA PORTADORA E INTERFEROMETRÍA DE AMARRE DE FASE
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesis
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.coverageLeón, Guanajuato
dc.audiencegeneralPublic


Este ítem pertenece a la siguiente institución