Se reporta un método para caracterizar el transporte eléctrico a través defectos intragranulares en dos direcciones principales de una muestra superconductora. Los datos experimentales fundamentales, las curvas de I − V, se tomaron en muestras de Bi-2223 a una temperatura de 90 K y campos magnéticos bajos(Ha < 39.8 kA/m), y se analizaron usando un modelo de "flux flow" propuesto por A. Gurevich [4]. El modelo permite determinar el primero y segundo campos críticos de las uniones Josephson largas debido a la presencia de defectos planares dentro de los granos. De los resultados obtenidos se aprecia cierta anisotropía en cuanto a las propiedades de transporte eléctrico y un aumento de los campos críticos asociados a las corrientes que pasan por los defectos planares para presiones de compactación crecientes.We report a method for characterizing the electric transport through the intragranualar defects in two main directions of a superconducting sample. The main experimental data, the I − V curves, were taken on Bi-2223 samples at 90 K and low applied magnetic fields (Ha &lt; 39.8 kA/m), and analyzed by using a flux flow model proposed by A. Gurevich. The model allows determining the lower and upper critical field of the large Josephson junctions due to the presence of planar defects inside the grains. The obtained results reveal certain anisotropy in the electric transport properties and an increase of the critical fields associated to currents through the planar defects with increasing compacting pressures.Instituto de Física La PlataConsejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas