Mediciones eléctricas por el método de cuatro puntas en películas delgadas de interés fotovoltaico

Abstract

En este trabajo de tesis se realizó la conexión y puesta a punto de un sistema para medición de la resistencia en hoja de películas delgadas, utilizando el método de cuatro puntas o método de Kelvin. Se realizó desde el diseño del portamuestras, el cabezal que lleva las cuatro puntas con el cual se realizan las mediciones, la base donde se monta estos dispositivos, así como el estudio de la interconexión y funcionamiento de los aparatos utilizados para realizar la medición. El sistema de medición aplicando el método de cuatro puntas con los dispositivos KEITHLEY, lo cual amplia el rango de medición de resistencia en hoja hasta el orden de Gigaohms. Posteriormente se realizó el estudio de la resistencia en hoja de una serie de muestras de películas delgadas de CdS:Mg y ZnO:Al utilizados como capa ventana y electrodo conductor en celdas solares de película delgada. Se obtuvieron las mediciones haciendo uso de una interface GPIB a la computadora, se midió la resistencia en hoja de la misma serie de películas delgadas en CICATA Legaria para la validación de las medidas realizadas con el sistema montado.