Localización de fallas en sistemas muestreados.

Registro en:

http://cd.dgb.uanl.mx/handle/201504211/5282

https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7095708

Autor

Tovar Luna, Alma Cristina

Institución

Universidad Autónoma de Nuevo León (México)

Resumen

Tesis (Maestro en Ciencias de la Ingeniería Eléctrica con Orientación en Control Automático) UANL, 2011.

UANL

http://www.uanl.mx/

Materias

Sin materia asignada

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