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Tesis de licenciatura
Medicion del espesor de recubrimientos metalicos con rayos X de fluorescencia inducidos por fuentes radiactivas
Fecha
1970
Registro en:
https://ru.dgb.unam.mx/handle/DGB_UNAM/TES01000066739
001-00323-P3-1970-10
https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7038675
Autor
Pacchiano Ramos-Cárdenas, Agelica
Institución
Universidad Nacional Autónoma de México
Materias
Rayos X
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