Artículo de revista
How to fit models of recognition memory data using maximum likelihood
Fecha
2010Registro en:
2011-7922
Autor
Dunn, John C
Institución
Resumen
El propósito de este artículo es proveer un tutorial sobre cómo ajustar diferentes modelos de la memoria de reconocimiento usando estimación de máxima verosimilitud. El artículo presenta cuatro partes. Primero se describe cómo se analizan y obtienen datos en experimentos sobre la memoria de reconocimiento. En segundo lugar se presentan cuatro modelos recientes que serán ajustados a los datos. La tercera parte describe en detalle cómo se ajusta un modelo usando el procedimiento de estimación de máxima verosimilitud. Por último se examina cómo el modelo ajustado pueden ser evaluado y qué pruebas estadísticas pueden aplicarse para ello.