"En este trabajo se presenta un estudio analítico de placas zonales, también llamadas lentes de Fresnel y una propuesta para mejorar sus propiedades de enfocamiento. Este estudio se realiza para una región de longitud de onda muy corta, los rayos X. Este estudio tiene la finalidad de coadyuvar en el desarrollo de los microscopios de rayos X modernos. Se ha demostrado que es posible describir con buena precisión el funcionamiento de estas componentes mediante la integral escalar de difracción de Fresnel. Sin embargo, realizar dichos cálculos representa un complejo problema ya que no es posible realizarlos de manera exacta mediante integrales conocidas. Una manera alternativa, para realizar los cálculos de manera numérica, es utilizando la superposición de haces gaussianos. Esta técnica presenta la ventaja de que un frente de onda puede ser representado con muy buena precisión mediante una descomposición de pequeñas ondas gaussianas. En este trabajo se presenta la metodología para el cálculo del patrón de difracción mediante la superposición de haces gaussianos así como los cálculos respectivos de las modificaciones propuestas para tornar más eficaz las características de las placas zonales de Fresnel."